当事例は、電子部品（コンデンサ）特性検査装置の開発事例です。当事例では、お客様より、特殊なコンデンサの特性を検査装置の開発依頼をいただきました。

詳細のヒアリングを実施したところ、DIPのコンデンサであれば、容易に通電試験ができるが、今回対象となるものは薄型形状且つ、SMDであるため、部品を挟み込み通電検査できるような装置が求められていました。ちなみに、開発した装置からLCRメーターに結果を出力する仕様となります。

具体的な要望は下記の通りでした。
・複数のコンデンサをセットできる
・各セットしたコンデンサの検査を行うと、LCRメーターに結果が表示される
・各セットしたコンデンサのどれを検査しているか容易にわかるよう視覚化する
・同時使用とはならないよう、他のボタンを押すと切り替わる仕様とする
・保護ケースは透明で、装置外部から該当のコンデンサが見えるようにする

上述のご要望を基に、機構設計（内部構造＋付属部品選定）また、回路設計・基板設計を進め、試験装置の製造まで対応しました。当社にて、機構設計・回路設計・基板設計、さらには製造まで対応した上、お客様のご要望を忠実に再現したことにより、お客様には大変ご満足いただきました。